老化房，又叫燒機(jī)房，是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥、化工。
老化房與高溫試驗(yàn)箱的區(qū)別：
在長(zhǎng)期與用戶接觸中，經(jīng)常遇到用戶對(duì)于高溫試驗(yàn)箱與老化房(燒機(jī)房)等指標(biāo)近似作用界限模糊的設(shè)備分不清的情況，在此做一個(gè)較系統(tǒng)的說(shuō)明。
高溫試驗(yàn)箱用于試驗(yàn)樣品做高溫適應(yīng)性試驗(yàn)及高溫應(yīng)力試驗(yàn)，也可當(dāng)干燥箱用，但由于指標(biāo)差異大，干燥箱不能替代高溫試驗(yàn)箱。
老化房一般用于產(chǎn)品出廠前的老練篩選，挑除前期失效工件。多用于電工電子產(chǎn)品。
高溫試驗(yàn)箱現(xiàn)行執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
老化房沒有專用的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，一般參照GB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》執(zhí)行
二、指標(biāo)的異同
高溫試驗(yàn)箱
溫度波動(dòng)度：≤1℃
溫度梯度：≤2℃
溫度偏差：±2℃
老化房
由于老化房沒有產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，且使用溫度不高，一般參照高溫試驗(yàn)箱指標(biāo)：
溫度波動(dòng)度：≤1℃
溫度均勻度：≤2℃(按GB/T11158-98的指標(biāo))
溫度偏差：±2℃
換氣量：可調(diào)
三、結(jié)構(gòu)
由于高溫試驗(yàn)箱溫場(chǎng)要求較高，一般采用層流設(shè)計(jì)。
老化房一般要考慮試品架或試品車的情況。
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